飛機渦輪葉片，面臨如何去測量它的涂層厚度，包括內外尺寸的一些分析，粗糙度測量和波紋度測量，這也是目前來說行業需要達成統一的一個難點。而整體葉盤，由于其測量周期比較長，喉道又比較狹窄，如何去完成高效的一個測量，同時又要兼顧計算喉道面積，同時完成粗糙度和波紋度的測量——這也是亟待解決的一個問題。

　　譬如，針對葉片金相切片分析，蔡司光學顯微鏡Axio Lab/ Scope/ Imager，Axio Observer可以出色完成切片法檢測工件表面鍍層厚度，鍍層內缺陷觀察，鎳封顆粒自動統計，以及鍍層表面微裂紋，和晶粒評級。

　　針對翼型涂層厚度測量，ZEISS Axio Lab/ Scope/ Imager，Axio Observer以及配套軟件ZEN Core可以測量熱障涂層的厚度。該模塊能夠以自動或交互方式評估熱障涂層厚度。